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當(dāng)前位置:首頁資料下載低阻抗分析儀 表面低阻抗測定儀 三菱化學(xué)阻率計

低阻抗分析儀 表面低阻抗測定儀 三菱化學(xué)阻率計

發(fā)布時間:2020/2/21點擊次數(shù):854

低阻抗分析儀  表面低阻抗測定儀  三菱化學(xué)阻率計

型號:SN/MCP-T370

特點:

MCP-T370四探針恒定電流測試原理;

一觸式高精度測量各種材料的表面電阻率。

查找只需按下啟動按鈕,確認自動測量功能,可自動保持當(dāng)前的測量值。
電池壽命可以采用鎳氫電池組可以方便地替換。

新增探頭校準模式。

檢查探頭校準片(另售),以確認Roresuta-AX(MCP-T370)測試值的準確性。

測量數(shù)據(jù)可以導(dǎo)出到USB存儲器

可配置多種探頭測量低阻抗

 

MCP 探頭 
•  一次接觸樣品,即可完成測量 
•  內(nèi)置電流鈹銅鍍金高質(zhì)量探針,壓力恒定 
•  定內(nèi)阻和導(dǎo)線阻抗已經(jīng)消除

 

應(yīng)用范圍:
導(dǎo)電性油漆,導(dǎo)電性糊狀物,導(dǎo)電性塑料,導(dǎo)電性橡膠,導(dǎo)電性薄膜,金屬薄膜,抗靜電材料, EMI 防護材料,導(dǎo)電性纖維,導(dǎo)電性陶瓷,光伏行業(yè)等。

應(yīng)用于低阻抗測量范圍,帶 4 針探頭

測量范圍:1.999*10-2 ~ 106Ω   三種單位互轉(zhuǎn):Ω、Ω/口、Ω.cm  

 

用途 
工業(yè)生產(chǎn)、質(zhì)量控制、研發(fā)

 

 

選項

 

探頭選項
類型適用被測試樣品型號
ESP對于異類樣本MCP - TP08P
PSP小樣本的薄膜MCP - TP06P
QPP對于小樣本MCP - TPQPP
TFP有關(guān)硅晶片或玻璃基板薄膜MCP - TFP

  

校準塊型號:MCP - TRF1
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